由北京市政府主辦、北京市科協(xié)承辦的“2005年北京科技周”期間，北京測(cè)繪學(xué)會(huì)、中國(guó)測(cè)繪學(xué)會(huì)工程測(cè)量分會(huì)于2005年5月24日～26日在北京農(nóng)業(yè)展覽館聯(lián)合舉辦“2005北京測(cè)繪科技博覽會(huì)”。 博覽會(huì)三大主題為：測(cè)繪科技發(fā)展論壇、測(cè)繪科技成果展和國(guó)際測(cè)繪先進(jìn)儀器設(shè)備展。 測(cè)繪科技發(fā)展論壇將有多位我國(guó)測(cè)繪界專(zhuān)家、學(xué)者及領(lǐng)導(dǎo)出席，討論我國(guó)測(cè)繪與地理信息行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)，交流測(cè)繪行業(yè)的發(fā)展與我國(guó)其它基礎(chǔ)建設(shè)的緊密聯(lián)系。國(guó)際測(cè)繪技術(shù)展覽將展出來(lái)自瑞士、美國(guó)、日本等國(guó)際著名測(cè)繪與地理信息行業(yè)的先進(jìn)技術(shù)和儀器設(shè)備。測(cè)繪科技成果展將展示中國(guó)測(cè)繪科學(xué)研究院、國(guó)家基礎(chǔ)地理信息中心、中國(guó)地圖出版社等多家單位的測(cè)繪成果。