美國(guó)熱電發(fā)布X系列Ⅱ代ICP-MS (2005-01-27)
發(fā)布時(shí)間:2007-12-04
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來(lái)源:儀器信息網(wǎng)
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來(lái)自美國(guó)熱電集團(tuán)的消息:該公司將在匈牙利布達(dá)佩斯召開(kāi)的“European Winter Plasma Conference 2005(1月30日~2月3日)”上首次展示該公司X系列Ⅱ代ICP-MS。
XⅡ采用了全新的離子提取系統(tǒng),從而獲得了四極桿ICP-MS技術(shù)更低的檢出限。同時(shí),XⅡ另一個(gè)創(chuàng)新點(diǎn)是它的離子光學(xué)設(shè)計(jì),具有保護(hù)離子提取功能。這一設(shè)計(jì)極大降低了空白背景,再加上熱電公司的第三代離子碰撞池技術(shù),使得該型儀器的干擾消除能力得到了進(jìn)一步提高。
據(jù)熱電集團(tuán)相關(guān)人士介紹:XⅡ的錐形接口既保持了XⅠ在分析方面的優(yōu)勢(shì)傳統(tǒng),同時(shí)又改善對(duì)基體效應(yīng)的容許能力,降低了用戶(hù)對(duì)儀器維護(hù)的要求,開(kāi)創(chuàng)性的接口設(shè)計(jì)同離子光學(xué)設(shè)計(jì)使得用戶(hù)無(wú)需在高真空環(huán)境下清洗和更換部件。